TES200 74/40系列逻辑IC测试仪
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TES200 74/40系列逻辑IC测试仪
¥312.00
TES200 74/40系列逻辑IC测试仪
产品亮点：
- 广泛应用： 测试 74 和 40 系列的 200 多种数字集成。
- 使用方便： 用于选择和测试IC的简单按键操作。
- 反应快： 只需 3 秒即可提供结果。
- 电源供应： 在 7-12V DC 下运行。
特征：
- 测试逻辑集成以确定哪个门有故障。
- 工作电压7-12V，电流<30mA。
- 工作温度范围为-40℃至65℃。
- 包括通过按钮选择和测试集成类型的功能。
界面：
- 电源接口： DC 接头 D13（内部正极，外部负极）。
- 开关;电源开关： 开/关状态。
- 纽扣： MODE（选择集成类型）、UP/DOWN（导航集成类型）、TEST（启动测试）。
支持的系列：
-
74系列：
7400 ,7401 ,7402 ,7403 ,7404 ,7405 ,7406 ,7407 ,7408 ,7409
7410 ,7411 ,7412 ,7413 ,7414 ,7415 ,7416 ,7417 ,7418 ,7419
7420 ,7421 ,7422 ,7424 ,7425 ,7426 ,7427 ,7428 ,7430 ,7432
7433 ,7434 ,7435 ,7436 ,7437 ,7438 ,7439 ,7440 ,7442 ,7443
7444 ,7445 ,7446 ,7447 ,7448 ,7454 ,7464 ,7470 ,7472 ,7473
7474 ,7475 ,7476 ,7477 ,7478 ,7480 ,7482 ,7483 ,7485 ,7486
7487 ,7489 ,7494 ,7495 ,7496 ,74101 ,74102 ,74103 ,74107 ,74108
74109 ,74112 ,74113 ,74125 ,74126 ,74128 ,74130 ,74132 ,74133 ,74134
74135 ,74136 ,74137 ,74138 ,74139 ,74140 ,74145 ,74147 ,74148 ,74151
74152 ,74153 ,74155 ,74156 ,74157 ,74158 ,74160 ,74161 ,74163 ,74164
74165 ,74166 ,74171 ,74173 ,74174 ,74175 ,74176 ,74177 ,74180 ,74182
74190 ,74191 ,74192 ,74193 ,74194 ,74195 ,74197 ,74242 ,74243 ,74247
74248 ,74249 ,74251 ,74253 ,74256 ,74257 ,74258 ,74259 ,74260 ,74266
74279 ,74280 ,74283 ,74290 ,74293 ,74295 ,74298 ,74350 ,74352 ,74353
74365 ,74366 ,74367 ,74368 ,74375 ,74378 ,74379 ,74390 ,74393 ,74395
74425 ,74426 ,74445 ,74447 ,74490 ,74595 ,74670
-
40,45系列：
cd4000、cd4001、cd4002、cd4006、cd4007、cd4008、cd4009、cd4010、cd4011、cd4012。
cd4013、cd4014、cd4015、cd4016、cd4017、cd4018、cd4019、cd4020、cd4021、cd4022。
cd4023、cd4024、cd4025、cd4026、cd4027、cd4028、cd4029、cd4030、cd4033、cd4035。
cd4040、cd4042、cd4043、cd4044、cd4048、cd4049、cd4050、cd4051、cd4052、cd4053。
cd4060、cd4066、cd4068、cd4069、cd4070、cd4071、cd4072、cd4073、cd4075、cd4076。
cd4077、cd4078、cd4081、cd4082、cd4085、cd4093、cd4094、cd4099、cd4502、cd4503。
cd4504、cd4510、cd4511、cd4512、cd4516、cd4518、cd4520、cd4522、cd4526、cd4529。
cd4532、cd4539、cd4543、cd4555、cd4556、cd4584、cd40106、cd40110、cd40161、cd40162、cd40174、cd40175、cd40192、cd40193
包裹包括：
- 1 x TES200 逻辑 IC 测试仪
该工具非常适合各种应用中的数字集成测试，可确保精确、快速地检测故障门。
